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平均晶粒度檢測

平均晶粒度檢測

檢測目的: 檢測金屬材料晶粒大小
檢測范圍: 鋼、銅合金、鋁合金、鎂合金、鎳合金、鈦合金等
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項目介紹

晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性能有很大影響。晶粒度的影響,實質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大,對性能的影響也越大。對于金屬的常溫力學(xué)性能來說,一般是晶粒越細(xì)小,則強(qiáng)度和硬度越高,同時塑性和韌性也越好。

顯微鏡.jpg

試驗方法

一般情況下平均晶粒度檢測有三種基本方法:比較法、面積法、截點法。具體如下:

1、比較法

比較法不需計算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖進(jìn)行比較,用比較法評估晶粒度時一般存在一定的偏差(±0.5級)。評估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級。

2、面積法

面積法是計算已知面積內(nèi)晶粒個數(shù),利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級別數(shù)。該方法的精確度中所計算晶粒度的函數(shù),通過合理計數(shù)可實現(xiàn)±0.25級的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的,重現(xiàn)性小于±0. 5級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計數(shù)。

3、截點法

截點數(shù)是計算已知長度的試驗線段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點數(shù),利用單位長度截點數(shù) 來確定晶粒度級別數(shù)。截點法的精確度是計算的截點數(shù)或截距的函數(shù),通過有效的統(tǒng)計結(jié)果可達(dá)到 ±0.25級的精確度。


檢測標(biāo)準(zhǔn)
測試項目檢測標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)名稱樣品要求
平均晶粒度檢測
GB/T 6394-2017金屬平均晶粒度測定方法

1、取樣位置:棒狀樣1/2R處,塊狀樣1/2邊長處;

2、試樣尺寸推薦10*10mm


NB/T 20004-2014核電廠核島機(jī)械設(shè)備材料理化檢驗方法
ASTM E112-2013測定平均粒徑的試驗方法


晶粒度圖片

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標(biāo)簽: 晶粒度分析
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