低溫測(cè)試是用帶制冷功能的溫度箱,測(cè)試前檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等是否正常并拍照,然后將產(chǎn)品放置于溫度箱中,設(shè)置溫度箱的溫度及測(cè)試時(shí)長(zhǎng),比如-30°C,168小時(shí),讓溫度箱工作,這樣,就模擬出產(chǎn)品所處于的環(huán)境溫度及時(shí)長(zhǎng)。測(cè)試完成后,將產(chǎn)品取出,再次檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等跟測(cè)試前是否有什么變化。對(duì)比之后,如發(fā)現(xiàn)未受到影響,或者受到的影響在可接受的范圍之類,則說明該產(chǎn)品抗低溫方面的性能合格,否則為不合格。
不帶電貯存:-40℃,保持24h,恢復(fù)2h。
測(cè)試設(shè)備是否工作正常;帶電工作:-20℃,保持工作狀態(tài),觀察設(shè)備是否正常工作;
參考標(biāo)準(zhǔn):GJB 、GBT2423.1等。
檢測(cè)項(xiàng)目 | 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) | 測(cè)試周期 | 樣品要求 |
低溫試驗(yàn) | GB/T 2423.1-2008 | 實(shí)際+2 | 只測(cè):溫度范圍:-40℃~+5℃ 尺寸:1×1×1m |
IEC 60068-2-1-2007 |
低溫對(duì)機(jī)械、電工、電子產(chǎn)品影響是多方面的,并因產(chǎn)品拄能、程度輔結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)而異,如:
1、使電解液凍結(jié)t導(dǎo)致電解電容器、電池不能正常使用;
2、潤(rùn)滑油粘度增加,甚至冷凝凍結(jié),影響產(chǎn)品起動(dòng)性能;
3、影響電子產(chǎn)品正常啟動(dòng),增大儀表誤差;
4、使材料變脆,如塑料、鋼鐵在低溫下容生脆裂損壞,橡膠材料硬度增大,彈性下降。
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