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1、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了銅及銅合金平均晶粒度的表示及測(cè)定方法，包含有比較法、面積法和截距法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定單相或以單相為主的銅及銅合金的晶粒度。

2、試樣

2.1 試樣應(yīng)直接從產(chǎn)品 上截取。取樣部位和取樣數(shù)量應(yīng)按相應(yīng)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。

2.2 試樣取樣尺寸推薦如下：

a) 板帶材取15 mmX15 mm正方形樣；

b) 管棒材沿軸向取10 mm~15 mm長(zhǎng)圓環(huán)樣或圓片樣。

2.3 試樣制備方法按照YS/T 449規(guī)定進(jìn)行。

3、晶粒度測(cè)定方法

3.1比較法

3.1.1比較法是通過(guò)被測(cè)試樣的圖像與標(biāo)準(zhǔn)圖對(duì)比來(lái)測(cè)定試樣晶粒度。

3.1.2試樣制好后 ,在放大100倍的倍率下，通過(guò)金相顯微鏡拍出有代表性視場(chǎng)的顯微照片或直接通過(guò)目鏡觀察，與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片附錄A直接比較，選出與試樣圖像最接近的標(biāo)準(zhǔn)圖片，作為試樣的晶粒度，報(bào)出晶粒度值。每個(gè)試樣截面上應(yīng)選擇三個(gè)或三個(gè)以上有代表性視場(chǎng)進(jìn)行比較。

3.1.3 當(dāng)試樣晶粒度超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片所包括的范圍時(shí)，可采用合適的放大倍率M。在此放大倍率下的晶粒圖像與標(biāo)準(zhǔn)放大倍率(100X )的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖片進(jìn)行比較，找出最接近的圖片后,按表2查對(duì)，報(bào)出實(shí)際晶粒度。

3.2 面積法

3.2.1面積法是通過(guò)統(tǒng)計(jì)給定面積內(nèi)的晶粒數(shù)來(lái)測(cè)定試樣晶粒度。

3.2.2在晶粒圖像上劃一個(gè)直徑79.8mm的測(cè)量圓，面積近似為5000mm2，選擇適當(dāng)放大倍率M，使該圓內(nèi)至少包含有50個(gè)晶粒。計(jì)算測(cè)量圓覆蓋的晶粒數(shù)ng；

3.3 截距法

3.3.1 截距法是通過(guò)統(tǒng)計(jì)一 -定長(zhǎng)度的一.條或幾條線段上所截的晶粒個(gè)數(shù)，計(jì)算出晶粒平均截距來(lái)測(cè)定晶粒度的大小。

3.3.2 在晶粒圖像上，任畫出一條或幾條一定長(zhǎng)度的線段作為測(cè)量線段，選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊堵?，以保證至少有50個(gè)晶粒被線段截過(guò)，李晶界不計(jì)算在內(nèi)。為了獲得準(zhǔn)確的平均值，應(yīng)選擇3~5個(gè)視場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量，以最能代表試樣晶粒大小視場(chǎng)分布報(bào)出。

4、測(cè)定方法的應(yīng)用

4.1使用任何一種測(cè)定方法。最終應(yīng)以晶粒平均直徑來(lái)表述晶粒度。需要時(shí)可根據(jù)公式計(jì)算或表3查出相應(yīng)的其他數(shù)值。

4.2 使用比較法可直接得出晶粒平均直徑；面積法、截距法可根據(jù)公式計(jì)算或查表報(bào)出出晶粒平均直徑。

4.3 比較法適用于具有等軸晶粒(或近似等軸晶粒)的再結(jié)晶品粒。面積法、截距法均適用于等軸晶粒的測(cè)量，同時(shí)也適用非等軸晶粒的測(cè)量。

4.4 非等軸晶粒的試樣檢驗(yàn)應(yīng)平行于加工方向的縱截面，必要時(shí)還應(yīng)檢驗(yàn)其他方向截面。等軸晶粒的試樣檢驗(yàn)平行于加工方向的縱截面即可。

4.5 比較法 方便實(shí)用，主要用于生產(chǎn)檢驗(yàn)。對(duì)于要求較高精度的平均晶粒度的測(cè)定，推薦采用面積法和截距法。截距法相對(duì)于面積法更為快捷準(zhǔn)確。如有爭(zhēng)議時(shí)，以截距法為仲裁方法。

4.6 顯微組織中晶粒尺寸和位置都是隨機(jī)分布，視場(chǎng)選擇應(yīng)為隨機(jī)的，不應(yīng)刻意去選取典型視場(chǎng)。

4.7 當(dāng)試樣存在著晶粒不均現(xiàn)象，且優(yōu)勢(shì)晶粒所占面積比例不大于視場(chǎng)面積的90%時(shí)，則應(yīng)篩選出兩種優(yōu)勢(shì)晶粒，按6.1.6. 2、6.3規(guī)定測(cè)量出兩種晶粒的平均直徑及所占百分比，報(bào)出兩種晶粒的平均直徑及所占比例作為最終晶粒度結(jié)果。如0.025 mm 40%和0. 045 mm 60%。否則，只報(bào)出優(yōu)勢(shì)晶粒的晶粒度。

以上就是“ YS∕T 347-2020 銅及銅合金平均晶粒度測(cè)定方法”的相關(guān)解答，無(wú)錫力博實(shí)驗(yàn)室是一家專注于可靠性試驗(yàn)與項(xiàng)目研發(fā)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，公司擁有大型實(shí)驗(yàn)室，可以承接平均晶粒度檢測(cè)、及CNAS/CMA報(bào)告試驗(yàn)，如果您有產(chǎn)品需要做相關(guān)測(cè)試的，歡迎電話咨詢!