失效分析近年從軍工向普通企業(yè)普及,它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。
失效分析流程
各種材料失效分析檢測方法
電子元器件失效分析
電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。
失效模式:開路,短路,漏電,功能失效,電參數(shù)漂移,非穩(wěn)定失效等。
常用手段
電測:連接性測試,電參數(shù)測試,功能測試
無損檢測:開封技術(shù)(機械開封、化學開封、激光開封)、去鈍化層技術(shù)(化學腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)、微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP)
制樣技術(shù):開封技術(shù)(機械開封、化學開封、激光開封)、去鈍化層技術(shù)(化學腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層)、微區(qū)分析技術(shù)(FIB、CP)
顯微形貌分析:光學顯微分析技術(shù)、掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù)
表面元素分析:掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質(zhì)譜分析(SIMS)
無損分析技術(shù):X射線透視技術(shù)、三維透視技術(shù)、反射式掃描聲學顯微技術(shù)(C-SAM)
金屬材料失效分析
隨著社會的進步和科技的發(fā)展,金屬制品在工業(yè)、農(nóng)業(yè)、科技以及人們的生活各個領(lǐng)域的運用越來越廣泛,因此金屬材料的質(zhì)量應(yīng)更加值得關(guān)注。
失效模式:設(shè)計不當,材料缺陷,鑄造缺陷,焊接缺陷,熱處理缺陷。
常用手段
金屬材料微觀組織分析:金相分析、X射線相結(jié)構(gòu)分析、表面殘余應(yīng)力分析、金屬材料晶粒度
成分分析:直讀光譜儀、X射線光電子能譜儀(XPS)、俄歇電子能譜儀(AES)等
物相分析:X射線衍射儀(XRD)
殘余應(yīng)力分析:X光應(yīng)力測定儀
機械性能分析:萬能試驗機、沖擊試驗機、硬度試驗機等。
高分子材料失效分析
高分子材料技術(shù)總的發(fā)展趨勢是高性能化、高功能化、復(fù)合化、智能化和綠色化。因為技術(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化,而需要通過失效分析手段查找其失效的根本原因及機理,來提高產(chǎn)品質(zhì)量、工藝改進及責任仲裁等方面。
失效模式:斷裂,開裂,分層,腐蝕,起泡,涂層脫落,變色,磨損失效。
常用手段:成分分析:傅里葉紅外光譜儀(FTIR)、顯微共焦拉曼光譜儀(Raman)、掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、X射線熒光光譜分析(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)、裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用(PGC-MS)、核磁共振分析(NMR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、X射線衍射儀(XRD)、飛行時間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS)
熱分析:差示掃描量熱法(DSC)、熱機械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)、導(dǎo)熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法)
裂解分析:裂解氣相色譜-質(zhì)譜法、凝膠滲透色譜分析(GPC)、熔融指數(shù)測試(MFR)
斷口分析:掃描電子顯微鏡(SEM),X射線能譜儀(EDS)等。
物理性能分析:硬度計,拉伸試驗機, 萬能試驗機等。
復(fù)合材料失效分析
復(fù)合材料是由兩種或兩種以上不同性質(zhì)的材料組合而成。具有比強度高,優(yōu)良的韌性,良好的環(huán)境抗力等優(yōu)點,因此在實際生產(chǎn)中得以廣泛應(yīng)用。
失效模式:斷裂,變色失效,腐蝕,機械性能不足等。
常用手段
無損檢測:射線檢測技術(shù)( X 射線、γ 射線、中子射線等),工業(yè)CT,康普頓背散射成像(CST)技術(shù),超聲檢測技術(shù)(穿透法、脈沖反射法、串列法),紅外熱波檢測技術(shù),聲發(fā)射檢測技術(shù),渦流檢測技術(shù),微波檢測技術(shù),激光全息檢驗法等。
成分分析:X射線熒光光譜分析(XRF)等,參見高分子材料失效分析中成分分析。
熱分析:重分析法(TG)、差示掃描量熱法(DSC)、靜態(tài)熱機械分析法(TMA)、動態(tài)熱機械分析(DMTA)、動態(tài)介電分析(DETA)
破壞性實驗:切片分析(金相切片、聚焦離子束(FIB)制樣、離子研磨(CP)制樣)
涂層/鍍層失效分析
失效模式:分層,開裂,腐蝕,起泡,涂/鍍層脫落,變色失效等。
常用手段
成分分析:參見高分子材料失效分析
熱分析:參見高分子材料失效分析
斷口分析:體式顯微鏡(OM)、掃描電鏡分析(SEM)
物理性能:拉伸強度、彎曲強度等。
模擬試驗(必要時)在同樣工況下進行試驗,或者在模擬工況下進行試驗。
總結(jié):
失效分析是經(jīng)驗和科學的結(jié)合,失效分析工程師就如醫(yī)生,工藝設(shè)計之初要有預(yù)防對策;產(chǎn)品生產(chǎn)后,進行體檢,找出其中的隱患,給出預(yù)防辦法去防止;失效發(fā)生后通過各種手段查找病因:驗血,照X光,做B超等,根據(jù)檢驗的數(shù)據(jù)進行分析是什么癥狀并對癥下藥,給出補救辦法。
目前國內(nèi)這方面做得比較欠缺,設(shè)計、生產(chǎn)、失效,各做各的。實際上,失效分析應(yīng)該參與到產(chǎn)品的設(shè)計工作,這樣才能從根本上避免產(chǎn)品失效。
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